您好,欢迎进入贝克曼库尔特国际贸易(上海)有限公司网站!
一键分享网站到:
产品列表

—— PROUCTS LIST

技术文章Article 当前位置:首页 > 技术文章 > 谈干法粒度分析仪的工作原理

谈干法粒度分析仪的工作原理

点击次数:1966 更新时间:2015-10-26
   干法粒度分析仪采用空气作分散介质,适用于任何干粉物料,特别是和水发生化学反应以及在液体中发生形态变化的颗粒,具有*地准确度和重复性,可用于研究机构和企业的科学研究、新品开发、产品检测和质量控制,该干法粒度分析仪分为A、B两个型号,区别在于量程的不同。
  干法粒度分析仪的工作原理:
  干法粒度分析仪采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。
  颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律,再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单,但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差,从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。
  无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设,通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级,给设备本身提出很高的要求。干法粒度分析仪采用*的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级,从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。
版权所有 © 2024 贝克曼库尔特国际贸易(上海)有限公司  ICP备案号:
Baidu
map